sit2001bi - s2 - 18 - 24.000000

设备类型 LVCMOS振荡器
频率
24 MHz
频率稳定性(ppm)
25
工作温度。范围(°C)
-40到85
输出类型
LVCMOS
电源电压(V)
1.80
包装尺寸(mm x mm)
SOT23 (2.9 x2.8)
包装高度(mm)
1.45
输出驱动强度*
默认的
功能销
备用
拉力范围(PPM PR)
N/A
传播比例
N/A
摇摆不定的选择
N/A
直流耦合输出VOL或交流摆动
N/A
直流耦合输出VOH
N/A
RoHS
是的

*详见数据表

磁带和卷轴选项

D = 3,000 ct
E = 1,000
G = 250 ct

可配置的特性集

  • 1到110兆赫之间的任何频率,精度为小数点后6位
  • 稳定性从±20ppm到±50ppm
  • 工业或扩展的商业温度。
  • 1.8 V或2.5 V ~ 3.3 V电源电压:
  • 自定义规格,以优化系统性能
  • 采用同一底座装置进行多种设计,减少验证需求;

SOT23包

  • 最低成本套餐
  • 最佳板级焊点可靠性
  • 简单的光板级焊点检查;

FlexEdge™驱动器强度

  • 较慢的上升/下降时间,使振荡器的EMI最小化
  • 通过驱动多个负载和消除额外的定时组件来节省成本;

超快交货时间(4 - 6周)

  • 减少库存开销
  • 减少短缺风险

  • 以太网
  • 火线
  • USB
  • 音频和视频
  • SATA / SAS
  • 光纤通道
  • 固态硬盘(SSD)
  • 存储、服务器和数据中心
  • 计算机服务器
  • 处理器时钟
  • FPGA时钟
  • 组网交换机和网关
  • 闭路电视及监控设备
  • 工业探头及设备
  • 医疗设备
  • 工厂自动化

狭窄:

文档名称 类型
5L-SOT23包装成分报告 成分报告
电子工业公民联盟模板 其他质量文件
四泰产品制造说明 其他质量文件
SiTime冲突金属声明 其他质量文件
四泰环保政策 其他质量文件
四泰科技日期代码保证 其他质量文件
ISO9001:2015注册证书 其他质量文件
冲突矿产报告模板 其他质量文件
5L-SOT23包装鉴定报告- Carsem 可靠性报告
SiTime振荡器可靠性报告(0.18微米CMOS工艺产品) 可靠性报告
SiT1602产品确认报告 可靠性报告
SiT16XX, SiT89XX高温产品合格报告 可靠性报告
SOT23包UTAC可靠性报告 可靠性报告
TSMC晶圆SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
Tower Jazz Wafer SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
5L-SOT23包装均质材料和SGS报告- Carsem RoHS /实现/绿色证书
BOSCH晶圆SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
WLCSP包装均质材料和SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
四泰环境合规声明 RoHS /实现/绿色证书
符合欧盟RoHS声明证书 RoHS /实现/绿色证书
5L-SOT23包装均质材料和SGS报告- UTAC RoHS /实现/绿色证书

评估板接触SiTime- - - - - -SiT6097 (2928 sot32 -5)

时间机器II程序员-程序频率,电压,稳定性等

频率斜率(dF/dT)计算器-计算频率斜率随温度的变化

SOT 23个5针三维阶梯模型-预览振荡器包在3D

狭窄:

资源名称 类型
SiT2001 3.57MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 4.096MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 4MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 6MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 7.3728MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 8.192MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 10MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 12MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 14MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 18.432MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 19.2MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 24.576MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 25MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 26MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 27MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 28.6363MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 30MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 31.25MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 32.768MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 33.3MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 33.33MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 33.333MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 33.3333MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 33MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 37.5MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 38.4MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 38MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 40.5MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 40MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 48MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 50MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 54MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 66.6MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 66.66MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 66.666MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 66.6666MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 66.66666MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 72MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 74.25MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 74.176MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 74.175824MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 75MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 77.76MHz LVCMOS 频率测试报告
SiT2001 100MHz LVCMOS 频率测试报告
硅MEMS可靠性和弹性 演讲
性能比较:硅MEMS和石英振荡器 演讲
如何测量时钟抖动在精密计时应用 演讲
如何测量相位抖动和相位噪声在精密计时应用 演讲
如何使用SiTime的新现场编程器获得即时振荡器 演讲
硅MEMS vs石英供应链 演讲
硅MEMS振荡器为LED照明提供好处 白皮书
MEMS定时解决方案改进触摸屏设备 白皮书
医疗应用现场可编程定时解决方案 白皮书
超健壮的MEMS定时解决方案提高了仪表应用的性能和可靠性 白皮书
MEMS振荡器在电机控制应用中提高了可靠性和系统性能 白皮书
基于mems的谐振器和振荡器正在取代石英 演讲
接触MEMS:机电接口 演讲
现场可编程振荡器数据表 数据表
SiT2001数据表 数据表
时间机器II MEMS振荡器编程器 产品简介
J-an10002シングルエンド発振器の推奨終端方法 应用笔记
AN10002单端振荡器驱动单或多负载的终止建议 应用笔记
J-an10006発振器のpcbデザ▪▪ンのガ▪▪ドラ▪▪ン 应用笔记
AN10006最佳设计和布局实践 应用笔记
时钟抖动的定义和测量方法 应用笔记
J-an10007クロックジッタの定義と測定方法 应用笔记
SiTime発振器の信頼性計算方法 技术论文
SiTime振荡器的可靠性计算 应用笔记
J-an10028プロ,ブを使用した発振器の出力波形計測方法 应用笔记
AN10028探测振荡器输出 应用笔记
memsおよび水晶ベ,ス発振器の電磁場感受率の比較 技术论文
MEMS与石英振荡器的电磁磁化率比较 技术论文
mems発振器と水晶発振器の性能比較(耐衝撃と耐振動) 技术论文
MEMS和石英振荡器的冲击和振动比较 技术论文
J-an10033発振器の周波数測定ガaapl . exeドラaapl . exeン 应用笔记
AN10033振荡器频率测量指南 应用笔记
シリコンmems発振器の耐性および信頼性 技术论文
硅MEMS振荡器的弹性和可靠性 技术论文
SiTimeのMEMS First™プロセス技術 技术论文
SiTime的MEMS First™和EpiSeal™工艺 技术论文
使用振荡器而不是晶体谐振器的前8个原因 白皮书
MEMS谐振器的优点- MEMS谐振器如何工作第2部分betway开户官网 演讲
如何测量长期抖动和周期到周期抖动在精密计时应用 演讲
硅MEMS振荡器频率特性及测量技术 演讲
SiT2001 (LVCMOS, 1.8 V) 宜必思模型
SiT2001 (LVCMOS, 2.5 V) 宜必思模型
SiT2001 (LVCMOS, 2.8 V) 宜必思模型
SiT2001 (LVCMOS, 3.0 V) 宜必思模型
SiT2001 (LVCMOS, 3.3 V) 宜必思模型
SiT2001 (LVCMOS, 2.25至3.63 V) 宜必思模型
AN10052 IEEE 1588 ITU-T标准中的PTP (Precision Time Protocol) 应用笔记
Sc-an10007时钟抖动定义与测量方法 应用笔记
Sc-an10033振荡器频率测量指南 应用笔记
AN10062振荡器相位噪声测量指南 应用笔记
相位噪声测量教程 视频
使用相位噪声分析仪的PCI Express Refclk抖动遵从性 演讲
MEMS定时参数的优势 视频
SiTime MEMS振荡器-革命性的定时市场 视频
SiTime的时间机器II -第1部分:如何安装振荡器编程软件 视频
SiTime的时间机器II -第2部分:如何编程现场可编程振荡器 视频
训练模块:用振荡器替换晶体 视频
SOT 23个5针 三维阶梯模型
SiTime MEMS定时解决方案(8.5x11) 小册子和传单
SiTime MEMS定时解决方案(A4) 小册子和传单
SiTime MEMS定时解决方案(A4)中文 小册子和传单
工业定时解决方案 小册子和传单
硅取代石英(日语字幕) 视频
硅取代石英(中文字幕) 视频
SiTime MEMS First工艺 技术论文
如何设置实时示波器来测量抖动 应用笔记
AN10071计算电信应用的TIE波峰因子 应用笔记
AN10070计算非电信应用的TIE波峰因子 应用笔记
通过检查确定相位噪声的主要来源 应用笔记
AN10074从RMS抖动测量中去除示波器噪声 应用笔记