1至110 MHz,SOT23振荡器

SiT2001B是SOT23振荡器,提供最佳的板级焊接可靠性,并实现低成本的光级板级检测。该设备具有最宽的频率范围,最低的功耗,最佳的稳定性和最短的交货时间,适用于消费者,网络,工业和其他应用。

对于SMD包中的相同设备,请参阅SiT8008B振荡器。

程序振荡器得到即时样品,优化的性能,和快速原型|了解更多

查看相关产品:115至137兆赫|QFN封装|-40 + 125°C|-55 + 125°C|汽车|XO阵容

带领SOT23包装,以便最佳板级可靠性,检查和可制造性
振荡器类型 XO-SE
频率 1 ~ 110 MHz
频率稳定度(ppm) ±20±25±50
相位抖动(rms) 1.3 ps
输出类型 LVCMOS
工作温度范围(°C) -20到+70,-40到+85
FlexEdgeTM上升/下降时间 是的
供电电压(V) 1.8、2.5至3.3
²包类型(毫米) SOT23(2.9x2.8)
特性 现场可编程,SOT23-5
可用性 生产

可配置的特性集

  • 1到110兆赫的任何频率,精度为6位小数点
  • 稳定性从±20ppm到±50ppm
  • 工业或扩展商业温度。
  • 1.8 V或2.5 V至3.3 V供电电压:
  • 为优化系统性能定制规格
  • 多次设计采用相同的底座装置,减少了资质要求;

SOT23包

  • 最低成本方案
  • 最佳板级焊点可靠性
  • 易于光学仅板级检测焊点;

FlexEdge™驱动力量

  • 更慢的上升/下降时间,最大限度地减少来自振荡器的电磁干扰
  • 通过驱动多个负载和消除额外的时间组件来节省成本;

超快交货时间(4至6周)

  • 降低库存成本
  • 减轻短缺风险

  • 以太网
  • 火线
  • USB
  • 音频和视频
  • SATA / SA.
  • 光纤通道
  • 固态硬盘(SSD)
  • 存储、服务器和数据中心
  • 计算机服务器
  • 处理器时钟
  • FPGA时钟
  • 组网交换机和网关
  • 闭路电视及监控设备
  • 工业探头及设备
  • 医疗设备
  • 工厂自动化

狭窄:

文档名称 类型
5L-SOT23包装成分报告 成分报告
电子工业公民联盟模板 其他质量文件
SiTime振荡器的制造说明 其他质量文件
SiTime冲突金属声明 其他质量文件
SiTime环境政策 其他质量文件
SiTime日期代码保证(16.72 kB) 其他质量文件
ISO9001:2015注册证书 其他质量文件
冲突矿产报告模板 其他质量文件
5L-SOT23包装鉴定报告- Carsem 可靠性报告
SiTime振荡器可靠性报告(0.18微米CMOS工艺产品) 可靠性报告
SiT1602产品确认报告 可靠性报告
SiT16XX, SiT89XX高温产品鉴定报告 可靠性报告
SOT23封装UTAC可靠性报告 可靠性报告
台积电晶圆SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
Tower Jazz Wafer SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
5L-SOT23包装均质材料和SGS报告- Carsem RoHS /实现/绿色证书
BOSCH Wafer SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
WLCSP包装同质材料和SGS报告 RoHS /实现/绿色证书
西泰环保合规声明 RoHS /实现/绿色证书
符合证书-欧盟RoHS声明 RoHS /实现/绿色证书
5L-SOT23包装均质材料和SGS报告- UTAC RoHS /实现/绿色证书

狭窄:

资源名称 类型
SiT2001 3.57 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 4.096 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SIT2001 4MHz LVCMOS. 频率特定测试报告
SiT2001 6 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SIT2001 7.3728MHz LVCMOS. 频率特定测试报告
SiT2001 8.192 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 10 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 12 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SIT2001 14MHz LVCMOS. 频率特定测试报告
SiT2001 18.432 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 19.2 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 24.576 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 25兆赫LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 26 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SIT2001 27MHz LVCMOS. 频率特定测试报告
SiT2001 28.6363 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 30 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 31.25 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 32.768 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SIT2001 33.3MHz LVCMOS. 频率特定测试报告
SiT2001 33.33 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 33.333 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 33.3333 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 33 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 37.5 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 38.4 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 38 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 40.5 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 40 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 48 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 50 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SIT2001 54MHz LVCMOS. 频率特定测试报告
SiT2001 66.6 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SIT2001 66.66MHz LVCMOS. 频率特定测试报告
SiT2001 66.666 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 66.6666 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 66.66666 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 72 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 74.25 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 74.176 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 74.175824 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 75 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 77.76 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
SiT2001 100 mhz LVCMOS 频率特定测试报告
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