AN10025恒化振荡器的可靠性计算

预期半导体部件在产品的寿命上可靠地执行。选择具有最高可靠性额定值的设备限制了导致现场产品故障的故障组件的可能性。Sitime提供符合此目标的振荡器，零MEMS现场故障超过2.5亿单位（截至2015年1月）。零现场故障令人印象深刻，但工程师希望保证该部件已被充分测试可靠性。用于测量半导体组件可靠性的关键指标是故障或MTBF之间的平均时间。MTBF越高，设备的预期寿命越长，因此更可靠的设备。此应用笔记描述了用于距离MEMS振荡器的预测MTBF的测试过程和计算。